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產品詳情
簡單介紹:
SANKO山高 膜厚計 可攜帶的探針整體型膜厚計 SAMAC-Pro
SANKO山高 膜厚計 可攜帶的探針整體型膜厚計 SAMAC-Pro
用自動判別的金屬。
在暗處的測量也可能。
◆FN型單功能,Pro型高機能。
◆測量值·標準曲線記憶功能(Pro )。
◆電腦的數據輸出功能(Pro )。
詳情介紹:
用自動判別的金屬。
在暗處的測量也可能。
◆FN型單功能,Pro型高機能。
◆測量值·標準曲線記憶功能(Pro )。
測定范圍鐵質地:0~2
有色金屬質地:0~毫米
1μm:0~999μm(鐵·有色共通)
根據切換
0.1μm:0~400μm(鐵·有色共通)
4μm:400~500μm(鐵非有色共通)
0.01毫米:1.00~2.5毫米(基礎)鐵
0.01毫米:1.00~2.0毫米(有色金屬質地)
測定精度
在平滑方面
垂直測量)0~100μm:±1μm(鐵、有色共同)
或指示值的±2 %以內
101μm~2.5毫米:±2%以內(鐵質地)
101μm~2.0毫米:±2%以內(有色金屬質地)
內存的檢量線(FN:一書,書Pro : 10)
測量值20,1000點(Pro)
統計計算功能LCD上統計數據顯示(Pro)
數據傳輸USB輸出(Pro)
探針
(內置)一點恒壓接觸式,V切割付,φ13
電源單4干電池(2),自動パワーオフ1.5 V×
使用溫度0~40℃(不得結露)
尺寸重量63(W)×84(D)×30(D)毫米,約125克
配件標準厚板,考試用零板(鐵用、有色用),收納盒
SWT系列專用探頭選項
用探針兼容和本體的自由組合連接可能。
根據測量對象,連接鐵質地(電磁式)或有色金屬質地(渦電流)。
◆微片條等的測量適合的高穩定性探頭等,用途和測量范圍更探頭可供選擇


在暗處的測量也可能。
◆FN型單功能,Pro型高機能。
◆測量值·標準曲線記憶功能(Pro )。
◆電腦的數據輸出功能(Pro )。
測定范圍鐵質地:0~2
有色金屬質地:0~毫米
1μm:0~999μm(鐵·有色共通)
根據切換
0.1μm:0~400μm(鐵·有色共通)
4μm:400~500μm(鐵非有色共通)
0.01毫米:1.00~2.5毫米(基礎)鐵
0.01毫米:1.00~2.0毫米(有色金屬質地)
測定精度
在平滑方面
垂直測量)0~100μm:±1μm(鐵、有色共同)
或指示值的±2 %以內
101μm~2.5毫米:±2%以內(鐵質地)
101μm~2.0毫米:±2%以內(有色金屬質地)
內存的檢量線(FN:一書,書Pro : 10)
測量值20,1000點(Pro)
統計計算功能LCD上統計數據顯示(Pro)
數據傳輸USB輸出(Pro)
探針
(內置)一點恒壓接觸式,V切割付,φ13
電源單4干電池(2),自動パワーオフ1.5 V×
使用溫度0~40℃(不得結露)
尺寸重量63(W)×84(D)×30(D)毫米,約125克
配件標準厚板,考試用零板(鐵用、有色用),收納盒
Pro:USB線,USB驅動(CD)
測量范圍連接探針(另售)不同而不同 |
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用探針兼容和本體的自由組合連接可能。
根據測量對象,連接鐵質地(電磁式)或有色金屬質地(渦電流)。
◆微片條等的測量適合的高穩定性探頭等,用途和測量范圍更探頭可供選擇


