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日本KANOMAX加野
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日本HONDA本多
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?YUMEX優(yōu)美科思
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ATTEN安泰信
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YIZIMO一子沫株式會(huì)社
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TECHNO 特古羅
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福樂(lè) FLUORO
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日本FURUPLA
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韓國(guó)HANIL攪拌機(jī)
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日本SUGIYAMA杉山電機(jī)
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一恒
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being貝茵
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日本Nidec尼得科
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德國(guó)FELO(菲龍/飛龍)
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北澤KITZ
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日本TAISEI大生工業(yè)
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兵神HEISHIN
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紡織纖維過(guò)濾網(wǎng)
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不織布濾材高效率長(zhǎng)壽命過(guò)濾網(wǎng)
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玻璃纖維過(guò)濾網(wǎng)
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化學(xué)過(guò)濾網(wǎng)
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耐熱過(guò)濾網(wǎng)
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食品過(guò)濾網(wǎng)
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空氣過(guò)濾網(wǎng)
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防腐蝕過(guò)濾網(wǎng)
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醫(yī)藥過(guò)濾網(wǎng)
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金屬過(guò)濾網(wǎng)
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大風(fēng)量過(guò)濾網(wǎng)
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活性碳過(guò)濾網(wǎng)
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中高效過(guò)濾網(wǎng)
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無(wú)紡布過(guò)濾網(wǎng)
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化工用過(guò)濾網(wǎng)
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低壓損過(guò)濾網(wǎng)
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真空摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)
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表面性測(cè)定機(jī)
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便攜式摩擦儀 繆斯
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低負(fù)載磨損試驗(yàn)機(jī)
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広域荷重摩擦磨耗試験機(jī)
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便攜式觸感儀
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往復(fù)磨損試驗(yàn)機(jī)
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連續(xù)加載式表面性能測(cè)量?jī)x
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轉(zhuǎn)矩式摩擦磨損測(cè)量?jī)x
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連續(xù)加載式抗刮強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)
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剝離強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)
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表面性能試驗(yàn)機(jī)
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可以簡(jiǎn)單測(cè)量靜摩擦系數(shù)的Tr...
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中*強(qiáng)大的機(jī)型
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摩擦摩耗試験機(jī)
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組裝臺(tái)
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循環(huán)/恒溫槽用攪拌機(jī)
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混合攪拌裝置
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上下回轉(zhuǎn)攪拌機(jī)
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帶外部輸入輸出遙控式攪拌機(jī)
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帶大功率外部輸入輸出遙控式攪...
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帶外部輸出攪拌機(jī)
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帶轉(zhuǎn)矩傳感器攪拌機(jī)
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完全防爆氣動(dòng)電機(jī)攪拌機(jī)
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小型裝置級(jí)攪拌機(jī)
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通用攪拌機(jī)
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大功率通用攪拌機(jī)
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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹:
重慶代理 OTSUKA大塚電子 積分半球:HM-1030
重慶代理 OTSUKA大塚電子 積分半球:HM-1030
詳情介紹:
OTSUKA大塚電子
品牌:OTSUKA大塚
日本官網(wǎng):https://www.otsukael.jp
醫(yī)用儀器:
二氧化碳碳同位素比分析裝置
紅外光譜分析儀POCONE,
血球細(xì)胞消除儀MM6-N,
分立的方式臨床化學(xué)自動(dòng)分析儀NS-Prime,
熒光**層析讀取器DiaScan α,
分析儀器:
厚型粒度分析儀FPAR-1000,F(xiàn)PAR-1000AS,
膜厚儀:FPAR-1000,F(xiàn)PAR-1000AS,
反射分光膜厚儀:FE-3000,FE-3000L,FE-3700,FE-300V,FE-300UV,FE-300NIR x1,
手動(dòng)和自動(dòng)可切換的橢圓偏光膜厚儀,FE-5000,
自動(dòng)可切換的橢圓偏光膜厚儀,FE-5300,FE-5500,FE-5600,FE-5700,
手動(dòng)橢圓偏光膜厚儀,FE-5000S,
內(nèi)置式膜厚監(jiān)控器,FE-3,
半導(dǎo)體晶片厚度檢測(cè)儀,SF-450M,
TSV晶圓厚度測(cè)試儀,SF-3000M,
光譜干涉硅片測(cè)厚儀,SF-3,
光譜儀
瞬間多通道測(cè)光系統(tǒng):MCPD-9800,MCPD-7700,MCPD-6800,MCPD-3700,
分光膜厚計(jì)
反射分光膜厚儀:FE-3000,FE-300V,FE-300UV,FE-300NIR x1,
橢圓偏光膜厚儀(自動(dòng)):FE-5000,
橢圓偏光膜厚儀(手動(dòng)):FE-5000S,
內(nèi)置式膜厚監(jiān)控器:FE-3,
半導(dǎo)體晶片厚度檢測(cè)儀:SF-450M,
TSV晶圓厚度測(cè)試儀:SF-3000M,
光譜干涉硅片測(cè)厚儀:SF-3,
TSV形狀檢測(cè)裝置:TS-3000,
LED光源評(píng)價(jià)儀:
積分半球:HM-1030,
積分半球:HM-1050,
掃描型光通量量測(cè)裝置:HM-9050L,
積分球:FM9300,
CIE平均化LED光度量測(cè)系統(tǒng):AL-1000,
配光量測(cè)系統(tǒng):GP-1000,
快速光分布測(cè)量系統(tǒng):GP-7,
量子效率量測(cè)系統(tǒng):QE-2000,
熒光膜檢測(cè)系統(tǒng)(傳輸熒光測(cè)量系統(tǒng)):DF-1000A,
FPD相關(guān)的檢查和評(píng)價(jià)設(shè)備 液晶顯示器(LCD)面板、模組檢測(cè):LCD-7200,
液晶顯示器(LCD)面板、模組檢測(cè):LCD-5200,
超高對(duì)比檢測(cè)儀:GC-1,
高感度分光放射輝度計(jì):HS-1000,
FPD相關(guān)的檢查和評(píng)價(jià)設(shè)備:
動(dòng)態(tài)畫(huà)面反應(yīng)時(shí)間檢測(cè)儀:MPRT-2000,
動(dòng)態(tài)畫(huà)面清晰度檢測(cè)儀:MR-2000,
相位差/光學(xué)材料量測(cè)設(shè)備:RETS-100,
低相位差高速檢測(cè)設(shè)備:RE-100,
OTSUKA平面顯示器(FPD)光電特性檢測(cè),
OTSUKA液晶層間隙(Cell gap)量測(cè)設(shè)備,
OTSUKA彩色濾光片色度檢查機(jī),
OTSUKA平面顯示器(FPD)大尺寸樣品專,
OTSUKA大塚OLED元件光電特性檢測(cè)設(shè)備,
Zeta電位,粒度測(cè)量系統(tǒng):ELSZ-1000ZS,
zeta電位的測(cè)量系統(tǒng):ELSZ-1000Z,
粒度測(cè)量系統(tǒng):ELSZ-1000S,
流動(dòng)式圖像分析粒子直徑、形狀測(cè)試裝置:Particle Insight,
粒徑測(cè)定系統(tǒng):ELSZ-2,
電位測(cè)定系統(tǒng):ELSZ-1,
厚型粒度分析儀:FPAR-1000AS,
厚型粒度分析儀:FPAR-1000,
光散射光度計(jì):
動(dòng)態(tài)光散射光度計(jì):DLS-8000HL,DLS-8000HH,DLS-8000DL,DLS-8000DH,DLS-6500HL,DLS-6500SL,
靜態(tài)光散射光度計(jì):LS-6500HL,
光纖的動(dòng)態(tài)光散射光度計(jì):FDLS-3000,
連續(xù)角度光散射光度計(jì):CALLS-1000,
聚合物薄膜動(dòng)力學(xué)分析儀:DYNA-3000,
高感度示差屈折計(jì):DRM-3000,
品牌:OTSUKA大塚
日本官網(wǎng):https://www.otsukael.jp
醫(yī)用儀器:
二氧化碳碳同位素比分析裝置
紅外光譜分析儀POCONE,
血球細(xì)胞消除儀MM6-N,
分立的方式臨床化學(xué)自動(dòng)分析儀NS-Prime,
熒光**層析讀取器DiaScan α,
分析儀器:
厚型粒度分析儀FPAR-1000,F(xiàn)PAR-1000AS,
膜厚儀:FPAR-1000,F(xiàn)PAR-1000AS,
反射分光膜厚儀:FE-3000,FE-3000L,FE-3700,FE-300V,FE-300UV,FE-300NIR x1,
手動(dòng)和自動(dòng)可切換的橢圓偏光膜厚儀,FE-5000,
自動(dòng)可切換的橢圓偏光膜厚儀,FE-5300,FE-5500,FE-5600,FE-5700,
手動(dòng)橢圓偏光膜厚儀,FE-5000S,
內(nèi)置式膜厚監(jiān)控器,FE-3,
半導(dǎo)體晶片厚度檢測(cè)儀,SF-450M,
TSV晶圓厚度測(cè)試儀,SF-3000M,
光譜干涉硅片測(cè)厚儀,SF-3,
光譜儀
瞬間多通道測(cè)光系統(tǒng):MCPD-9800,MCPD-7700,MCPD-6800,MCPD-3700,
分光膜厚計(jì)
反射分光膜厚儀:FE-3000,FE-300V,FE-300UV,FE-300NIR x1,
橢圓偏光膜厚儀(自動(dòng)):FE-5000,
橢圓偏光膜厚儀(手動(dòng)):FE-5000S,
內(nèi)置式膜厚監(jiān)控器:FE-3,
半導(dǎo)體晶片厚度檢測(cè)儀:SF-450M,
TSV晶圓厚度測(cè)試儀:SF-3000M,
光譜干涉硅片測(cè)厚儀:SF-3,
TSV形狀檢測(cè)裝置:TS-3000,
LED光源評(píng)價(jià)儀:
積分半球:HM-1030,
積分半球:HM-1050,
掃描型光通量量測(cè)裝置:HM-9050L,
積分球:FM9300,
CIE平均化LED光度量測(cè)系統(tǒng):AL-1000,
配光量測(cè)系統(tǒng):GP-1000,
快速光分布測(cè)量系統(tǒng):GP-7,
量子效率量測(cè)系統(tǒng):QE-2000,
熒光膜檢測(cè)系統(tǒng)(傳輸熒光測(cè)量系統(tǒng)):DF-1000A,
FPD相關(guān)的檢查和評(píng)價(jià)設(shè)備 液晶顯示器(LCD)面板、模組檢測(cè):LCD-7200,
液晶顯示器(LCD)面板、模組檢測(cè):LCD-5200,
超高對(duì)比檢測(cè)儀:GC-1,
高感度分光放射輝度計(jì):HS-1000,
FPD相關(guān)的檢查和評(píng)價(jià)設(shè)備:
動(dòng)態(tài)畫(huà)面反應(yīng)時(shí)間檢測(cè)儀:MPRT-2000,
動(dòng)態(tài)畫(huà)面清晰度檢測(cè)儀:MR-2000,
相位差/光學(xué)材料量測(cè)設(shè)備:RETS-100,
低相位差高速檢測(cè)設(shè)備:RE-100,
OTSUKA平面顯示器(FPD)光電特性檢測(cè),
OTSUKA液晶層間隙(Cell gap)量測(cè)設(shè)備,
OTSUKA彩色濾光片色度檢查機(jī),
OTSUKA平面顯示器(FPD)大尺寸樣品專,
OTSUKA大塚OLED元件光電特性檢測(cè)設(shè)備,
Zeta電位,粒度測(cè)量系統(tǒng):ELSZ-1000ZS,
zeta電位的測(cè)量系統(tǒng):ELSZ-1000Z,
粒度測(cè)量系統(tǒng):ELSZ-1000S,
流動(dòng)式圖像分析粒子直徑、形狀測(cè)試裝置:Particle Insight,
粒徑測(cè)定系統(tǒng):ELSZ-2,
電位測(cè)定系統(tǒng):ELSZ-1,
厚型粒度分析儀:FPAR-1000AS,
厚型粒度分析儀:FPAR-1000,
光散射光度計(jì):
動(dòng)態(tài)光散射光度計(jì):DLS-8000HL,DLS-8000HH,DLS-8000DL,DLS-8000DH,DLS-6500HL,DLS-6500SL,
靜態(tài)光散射光度計(jì):LS-6500HL,
光纖的動(dòng)態(tài)光散射光度計(jì):FDLS-3000,
連續(xù)角度光散射光度計(jì):CALLS-1000,
聚合物薄膜動(dòng)力學(xué)分析儀:DYNA-3000,
高感度示差屈折計(jì):DRM-3000,